一句话答案:X 射线穿透样品时,不同材料、不同厚度对射线的衰减不同——探测器把衰减差异变成灰度图像,气孔、虚焊、断线就在图上现形。整个检测过程不需要拆开样品,这就是"无损"的含义。
X 射线穿过物体时按指数规律衰减,衰减量取决于材料的线衰减系数(密度、原子序数)和穿透厚度。封装内部有气孔的地方等效厚度变薄、衰减变小,图像上偏亮;有金属多余物的地方衰减变大,图像上偏暗。灰度差异就是缺陷信息。
普通射线源的焦点在毫米级,几何不清晰度(半影)会把细小缺陷的边缘糊掉。微焦点源焦点尺寸到 5μm 级:源越接近"点光源",放大成像的边界越锐利,才能分辨植入器械封装里的细微虚焊与断线。RAYON-RE2300 采用 90kV 微焦点源,正是面向中小型精密件的高分辨率场景。
从探测器原始图像到可判读结果,中间有图像增强、缩放观察、缺陷分析(定位、尺寸测量、标注与对比)和结果导出。检测记录关联样品编号、曝光参数、成像几何、原始图像与分析标注——原始图像必须留存,判读结论才能复核。
RAYON-RE2300 微焦点X射线检测系统:90kV 微焦点源、5μm 焦点、一体式铅屏蔽机柜(可免专用铅室部署),支持图像增强与报告导出。
作者:精邦仪器技术团队(东莞市精邦机械科技有限公司)。本文为无损检测科普,验收准则以双方确认的方法文件为准。
相关设备:X光显影设备 RAYON-RE2300(东莞市精邦机械科技有限公司,精邦仪器)